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臺(tái)式鍍層測(cè)厚分析儀
所屬分類：膜厚儀鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品概述：鍍層分析儀是根據(jù)用戶的分析需求而設(shè)計(jì)的一款桌面型（XRF）分析儀，其具有分析速度快、穩(wěn)定性好、精度高等優(yōu)點(diǎn)，適用于多層鍍層厚度測(cè)量及材料定量定性分析。
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