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全自動(dòng)多功能XRF XAD-200
所屬分類：膜厚儀鍍層測厚儀
產(chǎn)品概述：全新上照式設(shè)計(jì)，保留原有四焦技術(shù)同時(shí)，搭載全自動(dòng)大行程移動(dòng)平臺(tái)和影像識(shí)別功能，既能檢測納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)ROHS檢測及全元素成分分析，無論是一個(gè)還是一批樣測試都能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)、快速、高效。
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