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多導(dǎo)毛細聚焦XRF XAD-u
所屬分類：膜厚儀鍍層測厚儀
產(chǎn)品概述：全新上照式設(shè)計，采用國內(nèi)首創(chuàng)、多導(dǎo)毛細聚焦X射線光學(xué)系統(tǒng)搭配自主研發(fā)的EFP算法和高靈敏度X射線檢測系統(tǒng)光東尺寸最小可達5微米半高寬，對微電子設(shè)備、高級電路板、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢，測量精度達納米級，同時高計數(shù)率保證鍍層或含量測試結(jié)…
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